Работы автора

Автор: Турцев Е. С.

Год:

Тип:

Авторы: # | - | A | B | D | F | G | H | I | K | L | M | N | O | P | R | S | T | U | V | W | Z | А | Б | В | Г | Д | Е | Ё | Ж | З | И | Й | К | Л | М | Н | О | П | Р | С | Т | У | Ф | Х | Ц | Ч | Ш | Щ | Э | Ю | Я | |

Найдено ресурсов: 1

Полные тексты ресурсов ЭБС доступны только авторизованным пользователям.

Автор(ы): Турцев Е. С.
Заглавие: Исследование эпитаксиальных структур Ge/Si методом рентгеновской дифрактометрии с построением карт обратного пространства : выпускная квалификационная работа, научный руководитель Шайблер Генрих Эрнстович.
Выходные данные: Новосибирск, 2025. Полное описание

Полный текст:

перейти / скачать файл