Информация о ресурсе
Автор(ы):
Турцев Е. С.
Заглавие:
Исследование эпитаксиальных структур Ge/Si методом рентгеновской дифрактометрии с построением карт обратного пространства
: выпускная квалификационная работа, научный руководитель Шайблер Генрих Эрнстович
Выходные данные:
Новосибирск, 2025
Полный текст:
Тип:
выпускные квалификационные работы
Предметная область:
нанотехнологии и наноматериалы
Кафедра/
подразделение-разработчик:
подразделение-разработчик:
каф. ППиМЭ (факультет РЭФ)