Автор(ы): Заглавие: Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии : учебно-методическое пособие. Выходные данные: Новосибирск : Изд-во НГТУ, 2012. Полное описание
|
||
Автор(ы): Заглавие: Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур: сканирующая зондовая микроскопия : учебное пособие. Выходные данные: Новосибирск : Изд-во НГТУ, 2013. Полное описание
|