| Автор(ы): | Романова Т. С., Бялик А. Д. |
| Заглавие: | Технические измерения в микроэлектронике : методическое пособие к лабораторным работам для факультета РЭФ направлений "Электроника и наноэлектроника" и "Нанотехнологии и микросистемная техника" |
| Выходные данные: | Новосибирск : Изд-во НГТУ, 2015 |
| Полный текст: |
перейти / скачать файл |
| Тип: | методические пособия |
| Предметная область: |
измерительная техника электротехника |
| Ключевые слова: |
микроэлектроника технические измерения p-n переходы биполярные транзисторы варикапы непрерывные случайные величины лабораторные работы |
| Кафедра/ подразделение-разработчик: |
каф. ППиМЭ (факультет РЭФ) |
| Лицензионные договоры: | внесены лицензионные договоры для авторов Бялик А.Д., Романова Т.С. |