Автор(ы): | Романова Т. С., Бялик А. Д. |
Заглавие: | Технические измерения в микроэлектронике : методическое пособие к лабораторным работам для факультета РЭФ направлений "Электроника и наноэлектроника" и "Нанотехнологии и микросистемная техника" |
Выходные данные: | Новосибирск : Изд-во НГТУ, 2015 |
Полный текст: |
перейти / скачать файл |
Тип: | методические пособия |
Предметная область: |
измерительная техника электротехника |
Ключевые слова: |
микроэлектроника технические измерения p-n переходы биполярные транзисторы варикапы непрерывные случайные величины лабораторные работы |
Кафедра/ подразделение-разработчик: |
каф. ППиМЭ (факультет РЭФ) |
Лицензионные договоры: | внесены лицензионные договоры для авторов Бялик А.Д., Романова Т.С. |