Автор(ы): | Пашков Н. А. |
Заглавие: | Исследование и анализ стойкости к специальным внешним воздействующим факторам серийных образцов микросхемы 1380EC014 : выпускная квалификационная работа, научный руководитель Илюшин Владимир Александрович |
Выходные данные: | Новосибирск, 2024 |
Полный текст: |
перейти / скачать файл |
Тип: | выпускные квалификационные работы |
Предметная область: |
электроника, радиотехника и системы связи |
Кафедра/ подразделение-разработчик: |
каф. ППиМЭ (факультет РЭФ) |