| Автор(ы): | Васильев В. Ю. |
| Заглавие: | Методы и возможности IN-LINE контроля тонкопленочных материалов в производстве субмикронных интегральных микросистем : учебное пособие |
| Выходные данные: | Новосибирск : Изд-во НГТУ, 2023 |
| Полный текст: |
перейти / скачать файл |
| Тип: | учебные пособия |
| Предметная область: |
электроника |
| Ключевые слова: |
ИМС интегральные микросхемы тонкопленочные материалы IN-LINE контроль производство микросхем ХОГФ ТП |
| Кафедра/ подразделение-разработчик: |
каф. ППиМЭ (факультет РЭФ) |
| Лицензионные договоры: | внесен лицензионный договор для автора Васильев В.Ю. |