| Автор(ы): | Данилов В. С., Раков Ю. Н. |
| Заглавие: | Анализ процессов в полупроводниковых устройствах : учебное пособие |
| Выходные данные: | Новосибирск : Изд-во НГТУ, 2011 |
| Полный текст: |
перейти / скачать файл |
| Тип: | учебные пособия |
| Предметная область: |
электроника |
| Ключевые слова: |
полупроводниковые устройства полевые транзисторы Шоттки барьеры паразитные емкости ПТШ |
| Кафедра/ подразделение-разработчик: |
каф. КТРС (факультет РЭФ) |
| Лицензионные договоры: | внесены лицензионные договоры для авторов Данилов В.С., Раков Ю.Н. |