Информация о ресурсе
Автор(ы):
Данилов В. С., Раков Ю. Н.
Заглавие:
Анализ процессов в полупроводниковых устройствах
: учебное пособие
Выходные данные:
Новосибирск : Изд-во НГТУ, 2011
Полный текст:
Тип:
учебные пособия
Предметная область:
электроника
Ключевые слова:
полупроводниковые устройства
полевые транзисторы
Шоттки барьеры
паразитные емкости
ПТШ
полевые транзисторы
Шоттки барьеры
паразитные емкости
ПТШ
Кафедра/
подразделение-разработчик:
подразделение-разработчик:
каф. КТРС (факультет РЭФ)
Лицензионные договоры:
внесены лицензионные договоры для авторов
Данилов В.С., Раков Ю.Н.