Автор(ы): | Батаев В. А., Тушинский Л. И., Которов С. А., Буторин Д. Е., Суханов Д. А., Батаева З. Б., Батаев А. А., Смирнов А. И., Плохов А. В. |
Заглавие: | Физические методы контроля структуры и качества материалов : учебное пособие [для МТФ направления 551600 по специальности 120800] |
Выходные данные: | Новосибирск : Изд-во НГТУ, 2000 |
Полный текст: |
перейти / скачать файл |
Тип: | учебные пособия |
Предметная область: |
материаловедение |
Ключевые слова: |
качество материалов контроль структуры металлография дефекты материалов классификация дефектов физические методы контроля оптическая металлография электронная микроскопия туннельная микроскопия эмиссионный спектральный анализ сканирующий туннельный микроскоп акустический контроль магнитный контроль микроанализ рентгеновский контроль оптико-телевизионный контроль растровая микроскопия |
Кафедра/ подразделение-разработчик: |
каф. ММ (факультет МТФ) |
Лицензионные договоры: | внесены лицензионные договоры для авторов Батаев А.А., Батаев В.А., Плохов А.В., Смирнов А.И. |