| Автор(ы): | Дикарева Р. П., Романова Т. С. |
| Заглавие: | Методы исследования материалов и структур : методические указания для выполнения лабораторных работ заочного отделения РЭФ по специальности 210104 - "Микроэлектроника и твердотельная электроника" |
| Выходные данные: | Новосибирск : Изд-во НГТУ, 2010 |
| Полный текст: |
перейти / скачать файл |
| Тип: | методические пособия |
| Предметная область: |
химия |
| Ключевые слова: |
кристаллография полупроводниковые материалы полупроводники |
| Кафедра/ подразделение-разработчик: |
каф. ППиМЭ (факультет РЭФ) |
| Лицензионные договоры: | внесены лицензионные договоры для авторов Дикарева Р.П., Романова Т.С. |