Автор(ы): | Дикарева Р. П., Романова Т. С. |
Заглавие: | Методы исследования материалов и структур : методические указания для выполнения лабораторных работ заочного отделения РЭФ по специальности 210104 - "Микроэлектроника и твердотельная электроника" |
Выходные данные: | Новосибирск : Изд-во НГТУ, 2010 |
Полный текст: |
перейти / скачать файл |
Тип: | методические пособия |
Предметная область: |
химия |
Ключевые слова: |
кристаллография полупроводниковые материалы полупроводники |
Кафедра/ подразделение-разработчик: |
каф. ППиМЭ (факультет РЭФ) |
Лицензионные договоры: | внесены лицензионные договоры для авторов Дикарева Р.П., Романова Т.С. |